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GTEM ―― より踏み込んだ分析

by Jonathan Hamilton, Megger Limited & Chairman of the GTEM User Group and Howard Chetwin, Measurement Technology Ltd & Secretary of the GTEM User Group

翻訳: T.Sato


GTEM とオープン・エリア・テスト・サイトの相関

Figure 1
Figure 1: GTEM - Gigahertz Transverse Electro Magnetic Test Chamber

前の記事では、 GTEM (Gigahertz Transverse ElectroMagnetic) セルの基本原理の概要を述べた。 これは、それが 1990年台に登場した時の GTEM の主な利点は、 伝統的な試験チャンバーと比較して比較的低いコストであったと結論した。 これは中規模の企業が自ら社内試験と EMC 指令に対する自己確認を行なうことを可能とした。

適切に校正された GTEM が放射イミュニティ試験のために全く適切であるということは全く正しい。 ほとんどのセルに対しては通常は4点校正で充分であり、 9点セットアップは最大級の GTEM に対してのみ必要となる。 だが、GTEM セルの放射イミュニティ試験のための使用から 同一のセルの放射エミッションのための使用へは、単純な移行ではない。

この理由はケーブルである。 その動作のためにケーブルを用いるいかなる機器も、その性質上、 その動作に際してそれらのケーブルからある程度のレベルの EMI を放射するであろう。 これらの信号の真のレベルを見出して、それが許容できるほど低いかどうかを決定することが、 エミッション試験の本当の目的である。 「理想的」な環境においては、自由空間のみがあって測定に干渉するものはなく、 従って EUT の状態の完璧な取得を行なえることだろう。 だが、GTEM の寸法は、ケーブルによって作られる近傍界と干渉するほど、 往々にしてそれが EUT に近いことを意味する。 製品のケーブルから放射された信号はセル内で反射し、結果として歪み、しばしば増幅される。 最悪の場合、特定のエミッションの 1/4 波長 (あるいは他の倍数) が いずれかのケーブルの長さと等しくなり得る。 結果的な共振と反射は測定を大混乱させ、 その結果は現実における製品を真に代表するものからはかけ離れたものとなる。

ある EUT がオープン・エリア・テスト・サイト (OATS) に持ち込まれた時、 その結果は通常は自由空間での読みに可能な限り近いものとなる。 この見解に対する典型的な異義は、ローカルな無線と携帯電話に起因する干渉である。 だが、実際上、OATS サイトの試験技術者は、 そのような意図しない干渉が正確にどこにあるかを既に知っているほど、 その試験の実施に熟練している。 だが、雨水も極度の反射を生じ、結果を完全に無効とし得るので、 悪天候の日には注意すべきである。 それは OATS が可能な限り真の自由空間に近いためであり、 関係する EMC 規格は放射エミッション試験のそのようなサイトでの実施をはっきりと優先する。

GTEM を購入して使用する企業の本当の目的は、 勿論、試験料金での出費を節約し、また開発時間を早めることである。 GTEM の構造の物理によってもたらされる制限のもとでさえも、 これは依然として達成可能である。 既に述べたように、フィールドはセル内で均一に発生させられ、 3m チャンバー内で発生させられるものと同一となるように確認されて校正されているので、 GTEM は放射イミュニティ試験のためには完全に受け入れ可能である。 【訳註 ― TEM セルによる放射イミュニティ試験への言及は IEC 61000-4-3 から除かれ、 IEC 61000-4-20 として独立させられているので、 IEC 61000-4-3 の試験での GTEM の使用は議論の対象となるかも知れない】 GTEM は、伝導イミュニティ (CI) 試験の不可避な結果から 外界をシールドするためにも有用である。 CI 試験で EUT ケーブルに注入された信号は、 ドーバーの有名な試験所で何年も前に行なわれた CI 試験を ドーバー沿岸警備隊が確実に確認できたほど、往々にして顕著な送信を引き起こす。

GTEM と OATS のあいだで可能な限りの整合を達成することは可能である。 これは放射イミュニティのために行なわれるものとは別の校正を必要とする。 そのような校正は、その放射エミッションの結果が OATS で見られるであろうものを正しく代表するという、可能な限り高い確信を与える。 それは完全ではなく、EMC 指令に対する本当の確認としては使用できないが、 開発の目的のためには非常に有用である。 経験のもとに、適格な EMC 技術者は、 GTEM 試験での不合格のように見える掃引の結果が OATS で合格となるかどうかを判断できる。 エミッションの結果のこの低下は「修正」ではなく、 それは単に OATS が反射と共振がないことからより現実的であるだろう場合である。 だが、その逆の、GTEM での合格が OATS での不合格となるものの予測は、より難しい。 珍しいものの、これは起き、本当の問題をマスキングする、 これも反射と共振の結果である。

GTEM を OATS に可能な限り近付けるように校正することは専門家の仕事であり、 低レベルのホワイト RF ノイズ発生器を OATS で測り、 その結果を GTEM 内での同一の試験の結果と相関させることを伴う。 その結果の差分ファイルを、GTEM の校正結果として用いることができる。 この校正手法は GTEM の寸法からの反射の影響を低減するであろうが、 共振の影響を除去できる校正はない。

結論として、GTEM は非常に有用なものであり、 中規模の企業にとって価値のある投資でもある。 放射イミュニティと伝導イミュニティのフル・コンプライアンス試験に GTEM を用いることで、出荷までの時間を顕著に低減できる。 実際上、GTEM は放射エミッション試験への適合のための設計にも用いることができ、 だが完全な確信のためには OATS での最後の1日の試験は必須である。

EUT とそのケーブルの配置の方法

放射エミッションやイミュニティの試験を試験所で行なう時には、 可能な場合には 1m のケーブルを曝すなどの、 従うべき明確な規則とガイドラインがある。 だが、広範囲の寸法の GTEM があり、 物理的な制約のためにそのような規則のほとんどは適用することができない。 さらに、ターンテーブル ――設備の揃った試験所のほとんどで普通の機能―― の付いた GTEM に出会うことは極度に稀である。

GTEM ユーザーはこの制約に臨機応変に対応する。 全ての EMC 試験の真の目的は、管理された EMC 環境において現実の状況を模擬することである。 この理念に忠実に、一部のユーザーは、まさに「現実」にそうなるであろうように、 ケーブルを文字通り乱雑に配置することを選ぶ。 このアプローチに対する反対意見は、2つのセットアップが同一になることはなく、 従って再現性が良くないものとなるだろうというものである。 多くの GTEM ユーザーは、 ケーブルをあらかじめ準備された治具に沿って引き回すという別の手法を採用している。 これは再現性を、従ってより管理された試験を与える。 これがほとんどの GTEM オペレータが好む手法であるが、 著者の1人は、経験から、その試験結果の現実的な特性のため、 乱雑なアプローチが多くの点でより有用であることを見出した。

通常、物理的、そして費用的な制約は、 GTEM セル内にターンテーブルのような物理的マニピュレータを設置することが 実際的ではないことを意味する。 このため、ユーザーの大半は EUT を手で取り扱う傾向がある。 伝統的なアプローチは、 放射試験をそれぞれの面が曝されるように3つの直交軸で行なうことである。 一部のユーザーはそれ以上のことをやり、 機器のインテグリティについてのより高いレベルの確信を与えるために、 放射イミュニティ試験を4つ、あるいは6つの回転させられた位置で行なう。 著者はかつてはこのアプローチを用いていたが、経験上、3面で合格する製品が 追加の向き (逆の面) のいずれかで不合格となることはないことを見出した。

自動化を提供するイミュニティ試験設備に必要な機器

Figure 2
Figure 2: PC を用いた基本放射イミュニティセットアップ

EN 61000-4-3 に従った放射イミュニティ試験のプロセスは、何回もの繰り返しのプロセスを、 そして仕様からの性能の逸脱を見付けるために被試験装置 (EUT) を監視するという要求を伴う。 このプロセスを自動化する目的は、 ユーザーの最小限の関与でできる限り速やかにそれを終えられるようにすること、 そして EMC 試験報告書に容易に含められる試験結果を与えることである。 信号発生器を制御してパワー・メータの測定値を得るために コンピュータと市販のプログラムのひとつを使用することが想定される。

自動化し得る作業は以下のものを含む:

これらのプロセスのいずれかの自動化は製品の検証に要する時間を顕著に低減でき、 一貫しない手法に伴う不確かさを最小限とする。 どのプロセスを自動化できるかは、テスト・ボリューム内で利用可能な寸法、 そして EUT の監視すべきパラメータの性質に依存するであろう。 自動化されるプロセス全てが、ローカルなコンピュータ上で走る 1つの放射イミュニティ試験プログラムの管理下に置かれることが重要である。 この方法でのみ、EUT の状態、そしてその結果の挙動の、 試験プロセスのそれぞれの段階との同期を保てる。

EUT の位置決め

被試験装置は、任意の方向で到来する干渉を模擬するために、 様々な面/方向の電磁界に曝されなければならない。 この機能を実現するマニピュレータが存在し、 それを放射イミュニティ試験ソフトウェア自身から制御できる可能性がある。 これは EUT の周囲に相当の空間のある大型試験設備で最も有用となりそうである。 GTEM750 までの小ささの GTEM のためのマニピュレータが作られているが、 この寸法のためには、EUT とそのケーブルを支持するための、 RF に対して透明な治具をいくつか作る方が容易かも知れない。 治具は、それが3つの直交軸で回転させられた時に EUT を正しい高さに保持するような寸法で作ることができる。

増幅器の切り替え

Figure 3
Figure 3: 製品試験のために OEM が設計した増幅器切り替えシステム

単一の増幅器では、放射イミュニティ試験で要求される全周波数範囲をカバーできそうにない。 例えば、80MHz から 2.7GHz までの範囲をカバーするためには、 80MHz から 1GHz をカバーするもの、 そして 1GHz から 2.7GHz までの範囲をカバーする別のものの2つが必要となりそうである。 施設によっては、この範囲をカバーするために3つの増幅器を用いる。 手動での増幅器の切り替えでの問題は、 切り替えを行なうために誰かがいなければないこと、 そしてそれぞれの試験セグメントの期間が異なりそうなことである。 また、コネクタとケーブルは摩耗しそうである。 この目的に適した RF スイッチ、すなわち 50Ω インピーダンスで、 DC から 18GHz までを通せるものが入手可能である。 その 28V リレー・コイルを駆動するためには電源が必要であり、 電力を適切なリレー・コイルに送るためのロジックが、 そして制御プログラムが変更を指示できるようにするための コンピュータ制御のスイッチが必要かも知れない。 増幅器2台のシステムの例をここで示す。

このシステムは、1台の信号発生器、1台のパワー・メータ、 そして HP 3488A GP-IB 制御リレー・マルチプレクサを用いる。 示されている RF スイッチは、ポート「1」と「2」のいずれかに接続される 1つの共通ポート「C」を持つ。 通電された時、リレーはポート「2」に切り替わる。 この構成では、3つのコイル全てが一緒に切り替えられ、 HP 3488A はこれを指示するための1つのリレー信号の「オン」/「オフ」のみを必要とする。 イミュニティ制御ソフトウェアは、 そのスイッチ制御ユニットのためのドライバを必要とするであろう。 コンポーネントの選択は非常に重要であり、いくらかの説明を必要とする。

方向性結合器

方向性結合器は、周波数範囲、パワー・メータの感度、 そして用いられる電力レベルに合わせなければならない。 多数の製造業者から、非常に広範囲の結合器を入手可能である。 その目的は、メイン・フィードから最小限の損失で、そして平坦な周波数応答で、 RF 信号のごく一部をパワー・メータのために取り出すことである。 パワー・メータは進行波電力に結合したポート (電力入力に最も近いもの) に接続される。 図で示されているような双方向性結合器を用いる場合、 反射波電力ポートには 50Ω 終端器を取り付けるべきである。 -10、-20、-30、-40、そして -50dB の結合電力の結合器が入手可能である。 パワー・センサは有限の電力レベル範囲でのみ動作し、 行なわれる試験の厳しさに従ったフィールド強度を得るために ある範囲の電力レベルにわたって試験する可能性を考慮しなければならない。 上のシステムは、0.75m のセプタム高の GTEM と、-30〜+20dBm の範囲のパワー・センサに適する。 システム校正プロセスは同一のシステム・コンポーネントを用い、 従って任意の小さい周波数変動に順応できるので、結合係数の精度はおそらくは重要ではない。 小さい減衰率の結合器は、周波数応答のより大きな変動と、 結合ポートに失われるより大きな電力を持つ傾向がある。 規定された周波数範囲にわたって ±1dB の再現可能な振幅変動が生じるものの、 -20dB の減衰率が良く機能することがわかった。 この範囲のためには -30dB の減衰率が必要であったので、 結合ポートに精密 DC〜18GHz 減衰器が取り付けられた。 使用された結合器は Narda 3022-20 と AR DC3001 であった。 方向性結合器は印象的で有用な技術であり、 ケーブルとコネクタが適切に選択され、しっかりと接続されている限り、 全く問題を起こさない筈である。 結合器を通して相当の電力が流れ、緩んだコネクタは負荷への電力の損失、 そして結合器の過熱をもたらすかも知れない。

RF スイッチ

Figure 4
Figure 4

信号発生器を電力増幅器に接続するスイッチは、 選択されていないポートを 50Ω で終端しなければならない。 これを示すため、その型番は文字「T」を含むであろう。 選択されていない増幅器は、スイッチが入れられていてもスプリアス信号を拾わないように、 その入力をグランドに 50Ω で終端される。 2台よりも多くの増幅器を持つシステムは、所定の接点数のスイッチを必要とするであろう。 4接点や6接点の RF スイッチが入手可能である。 それらは接点毎に1つのコイルを持ち、 イミュニティ試験ソフトウェアのソフトウェア・ドライバで可能な制御によっては、 必要な状態をデコードするために若干のロジックが必要かも知れない。 RF スイッチは通電された時に引き込みを行なうことが 100% 保証されてはおらず、 状態の監視のために使用できる追加の接点を持つリレーが入手可能である。 図示されたシステムは、表示灯を動作させるための追加の接点を持つ。 用いられているスイッチは、パワー・メータと GTEM については Narda SEM123DN、 信号発生器については SEM123DT である。

このシステムは、そもそもはトグル・スイッチで手動で制御されていた。 それが自動化された時、自動制御コネクタが差し込まれたのを検出して トグル・スイッチを無効とするための論理回路が用意された。

可能性のある RF スイッチ供給者には、Narda、JFW Industries、 Charter Engineering Inc、Hewlett Packard、Dow-Key Microwave、その他多数が含まれる。

放射イミュニティ・ソフトウェアが受け入れられる任意のリレー制御方法を使用できるかも知れない。 基本イミュニティ・システムで既に用いられている、 その互換性のある GPIB インターフェースのため、 そして USA における安価な中古市場のため、HP 3488A が選ばれた。 それを動作させるためにはプラグ・イン・カードが必要であり、 このカードに関係する必須のリア・ワイヤリング・コネクタとともに、 「44471 汎用リレー」プラグ・インが適切である。

データ収集

放射イミュニティ・ソフトウェア・プログラムの多くは、 試験実施中の EUT の性能の監視のために使用できる、周辺機器からのデータ収集のサポートを含む。 標準的な試験の実施は、開始から終了までの周波数を掃引がカバーするまで、 それぞれが前のものよりも 1% 高くなる間隔の一連の周波数で、 あらかじめ校正された RF ストレスを EUT に印加することから成る。 システムは、それぞれの周波数ステップで、要求されたストレスを確定させるためにキャリアのみを印加し、 それから、ドウェル・タイムに等しい期間、1kHz 振幅変調を印加するであろう。 データを収集する必要がある時間は、ドウェル・タイムの経過の直前である。 変動が起きたかどうかを見るためにデータ収集を手動で行なおうとするいかなる試みも、 変調ストレスが印加される時間と読みを取る時間とのあいだとの対応付けに失敗し、 その大きさは不明となろう。 人が監視しての試験実施中に注意が逸れることは不可避であり、 従って一部の周波数ステップは記録されないことになるだろう。

自動化は、印加されたストレスと測定のタイミングのあいだの必要な対応と、 全てのステップの記録の双方を達成する。 そのデータは周波数の値と共にファイルに保存され、これは 試験報告書のためのグラフの作成のために表計算プログラムにインポートできるであろう。

ソフトウェアの要求は以下のものを含む:

全ての EUT をこの方法で監視できるわけではないが、ケーブルを持つものの多く、 例えば電源や、アナログやデジタルの出力機能を持つ機器は、それが可能である。 ある製造業者が、変化の程度を評価するインテリジェンスを持つ、 計器の表示の変化を監視する視覚認識システムを設計したことを知っている。

多数のパラメータの測定が必要となり得るので、 イミュニティ・ソフトウェアは充分な数の監視チャネルを用意する必要がある。 それぞれのチャネルに計測器が必要である。 幸い、GPIB インターフェースはこの通信作業に理想的な機能を持ち、 1つの GPIB ポートは、基本イミュニティ・システム・コンポーネントと、 8台までの監視チャネルの双方を制御するであろう。 監視用計測器は、電気的に頑丈で多機能な入力と、GPIB ポートを持つ必要がある。 6 1/2 桁分解能のベンチ型 DMM はこの用途に適し、 主な変数として DC と AC の電圧、AC 電流、抵抗、周波数、dB を測定できる。 例えば、アラーム・リレー接点は抵抗測定機能を用いて監視できる。

「PC を用いた基本放射イミュニティセットアップ」を示す図に戻ると、 付け加えるべき唯一のアイテムは DMM を PC に接続するための多数の GPIB ケーブルである。 それらの DMM はゴムの緩衝材で保護されてうまく積み重ねられており、 n を DMM の台数として (n - 1) 本の 0.5m GPIB ケーブルで相互接続されている。

制御用 PC の GPIB インターフェースを「エミッション」と「イミュニティ」で切り替えるための GPIB 手動セレクタ・ユニットを設置することには価値がある。 これは1台のスペクトラム・アナライザを イミュニティ・リグの11台かそれ以上の GPIB デバイスから分離する。 スペクトラム・アナライザは送信すべき大量のデータを持ち、 そのバスの負荷はできる限り軽くしておくべきである。

報告生成

多くのエミッションやイミュニティの試験プログラムは、 試験の結果が EUT の詳細、適用された規格、 そして収集されたかも知れない任意の数値やグラフィカルなデータと共に記録されることから、 報告生成を提供する。 これが行なわれるまでは完全な報告は可能とならないので、 全ての詳細は、自動的に収集されないならば入力しなければならない。 この自動化の要求はユーザーに強く依存し、、 現状のデータを入力するように促されることで満足するかも知れず、 あるいはそのデータが用意できたならば収集されることを好むかも知れない。 ひとつの真実がある ―― もし試験要員が試験、使用機器、環境条件などの詳細を適切な時に記録し損ねれば、 1週間ほど後、一部の試験器が校正に出されている時、 環境条件が変わった時、あるいは EUT が他の似たものと混ざった時にそれを思い出すことは、 驚く程困難である。

GTEM 性能検証の手法

GTEM は、良い性能の機会を与えるためにはその全てが良い状態で 正しく組み立てられなければならない、多数の大きなコンポーネントから成る。 それでさえも、システムの最適化のためには様々な調整を行なうことが必要となるであろう。 この記事では、実際の試験セットアップと、 GTEM のインテグリティの検証のために行なわれた様々な測定を調べる。

試験作業の性能の適切さの検証のための複数のテクニックが検討される。 1つのテクニックのみが全面的に検討され、 他は完全性のためにリストされ、将来の記事の基礎となり得る。

コンパリソン・ノイズ・エミッタ (CNE)

これらは、典型的には 30MHz から 1GHz の、特定の範囲で有用な、 決まったパターンの広帯域ノイズを発生する。 その目的は、ある受信トランスジューサから線形な応答を引き出し、 その応答をその CNE が発生することがわかっているエミッションのパターンと比較することである。 証明書なしでは、そのようなデバイスは良/不良検知器となるに過ぎない。 そのデバイスは、それが安定で、実際の応答の詳細な校正記録が付いていれば、本当に有用となる。 このエミッション・パターンのスペクトラム・パターンは、ある製品と他のものとでは異なる。 我々が見慣れているものは 30MHz から 1GHz までの 2MHz の間隔のスペクトラムを与える。 これはコム・ジェネレータと呼ばれ、アンテナから 3m の距離での 水平と垂直のエミッションの校正データが入手可能である。 2MHz の間隔のコム・ジェネレータは、水平と垂直のそれぞれの校正について、 486点のデータを与える。 GTEM は垂直の電界に対して感度を持ち、従って必要なのは垂直の校正データのみである。 供給された校正データを GTEM の性能の検証のために使用できるようにするためには ある程度のデータ加工が必要であり、これは若干の準備作業の後で述べるであろう。

CNE での準備作業

Figure 5
Figure 5: スペクトラム・アナライザのコンプレッションの試験

CNE で得られる測定値に頼れるようにするためには、いくらかの作業を行なう必要がある:
  1. CNE から受信された信号レベルが、受信デバイスを過負荷としておらず、 また信号対雑音比が良くないほど低くもないことを確かとすることが必要である。
  2. CNE の位置は GTEM の最適な校正位置に確実にあるべきであるが、 通常の試験中に EUT とケーブルが占めることを許す極端な位置に CNE が動かされた時の結果の変動の感覚を掴むべきである。
試験1は、CNE を最適な位置に置いて、 GTEM とスペクトラム・アナライザのあいだにプリアンプやアッテネータを入れずに行なう。 30〜1000MHz のエミッションの掃引が行なわれ、その結果が保存される。 2回目の掃引は、その信号を 20dB のアッテネータに通して行なう。 そして、この2回の掃引の結果を同一のグラフ上にプロットする。

2つのカーブのあいだに 20dB の一定の差があるかどうかを見る。 これが満足されれば、受信機は過負荷となっても、またノイズ・フロアの近くで動作してもいない。 図示されたプロットは、600MHz まで 20dB で一定で、 600MHz 以上ではより減衰した信号がアナライザのノイズ・フロアに近づくことから低下する差を示す。

このプロットは以下のことを示す:

  1. CNE 出力が最大である箇所ではコンプレッションは生じていない。
  2. 上の周波数で CNE 出力レベルが低下した時にレベルがノイズ・フロア以下となることから、 アッテネータは必要ない。

Figure 6
Figure 6

試験2は、CNE を水平面内の5箇所に置いて行なう。 それらの掃引は、放射エミッション試験ソフトウェアの視覚的表示機能を用いて重ねられる。

位置1が常に最大のデータを示すことがわかった。
位置2は最も近い値を示し、65〜100MHz、300〜350MHz、550MHz、850〜950MHz で低くなる。
位置3は多くの箇所で -3dB の変動を示す。
位置4は多くの箇所で -4dB の変動を示す。
位置5は多くの箇所で -4dB の変動を示す。

結論として、位置1を使用し、プリアンプとアッテネータのいずれも必要ない。

CNE 検証プロセス

Figure 7
Figure 8
Figure 9
エミッション測定を行なう時、我々は受信帯域幅が 120kHz のスペクトラム・アナライザを用いる。 30MHz から 1000MHz の全てのスペクトラムをスペクトラム・アナライザの単一の画面上で MAX HOLD モードで取り込むことは可能であろうが、 これは必要な精度を与えないであろうと考えられた。 アナライザの1つの「画面」は、おそらくは500から1000サンプルの、有限のデータ・ポイントを持つ。 これらのサンプルはコム・スペクトラム成分と満足できるほど合いそうにはなく、 エイリアシングを生じそうである。 これに対処するために、そのエミッションの掃引のために、 通常の放射エミッション試験で用いるであろうものと同じ、従って 検証と実際の放射エミッション製品試験とで最も良く比較できる結果を与えるであろう方法で スペクトラム・アナライザを用いる。 スペクトラム・アナライザは、全周波数スペクトラムを通して 60kHz の間隔でステップさせられる。 なぜそのように狭い間隔を用いるのか? Figure 7 は 120kHz 帯域幅でのアナライザの応答を示す。

Figure 8 は、120kHz 離れた2つのそのような応答カーブを示す。 コム周波数がその周波数範囲のどこかに入った時、 記録される振幅はピーク - ピークで 3dB の変動を生じ得ることがわかる。

対照的に、もしそれらの応答カーブが Figure 9 に示すように 60kHz だけ離れれば、 ピーク - ピーク変動は 1dB 以下の値に低減される。

30MHz から 1000MHz までの 60kHz のサンプル間隔は 16,167のサンプルをもたらす。 これは非常に大きい数であるが、表計算プログラムを用いることで、 16,167の数列の中の最大値に対応する、必要な 486のデータ・ポイントに減らすことができる。 スペクトラム・アナライザが、受信信号レベルの最適化のために、 プリアンプもアッテネータも必要としないことを見出した。 これらのコンポーネントは周波数依存性を持ち、 我々はプロセス内での全ての不要な変動を避ける必要があるので、 これは理想的である。

データ削減法

Table 1
Table 1: 1セットのデータの「相関」のために用いられた 補正係数ファイル 2Ghzgtem.amp の内容

エミッションの掃引から取り出されたデータは、 30MHz から 1000MHz の 60kHz 間隔の周波数とエミッション強度のデータのペアを含む。 これは「Y軸」データであり、 それを相関させるために X軸や Z軸のデータ・セットを導入したくはない。 これは、その結果を CNE の「垂直」校正データと比較したいからである。 だが、その Y軸データを分析できるようにするためには、相関させる必要がある。 1つの選択肢は、Y軸データの3つの同一のセットを相関させることであろう。 より容易な方法の1つは、補正係数ファイルの使用である。 使用された放射エミッション・ソフトウェアは補正係数ファイルの適用が可能であり、 3セットの同一のデータを補償するために補正係数ファイル (2Ghzgtem.amp) を作った。 それは高い周波数のレベルを増加させ、低い周波数のレベルを低下させ、 192MHz ではニュートラルな影響を持つ。 その傾斜は 20dB/decade である。

補償されたデータは、周波数をカラム A 、dB でのエミッションをカラム C として、 スプレッドシートに取り込まれた。 16,167の行全てで、カラム B と D は式で占められた。

カラム B はこの周波数ステップに理論的に最も近いコム中心周波数を計算する。 例えば、31〜33MHz の範囲では、その値は 32MHz となるだろう。 カラム D はこの 2MHz の範囲内で見られる最大のエミッション値を計算する。

カラム E は空であり、視覚的な分離のために用いられた。

カラム F、G、及び H は 486ポイントのより小さい出力の表を保持する。 カラム F は理論的なコム中心周波数、例えば 30、32、34MHz などで占められる。

カラム G はその周波数範囲で検出された最大のエミッション値である。 カラム H はその CNE ユニットとともに提供された校正データ・ファイルを取り込んだものである。

このプロセスのために選ばれた手法はデータの調整のためにカラム B、D、及び G の式を用いるが、 データを処理するマクロを作ってその結果をカラムに入れることも同様に可能だったろう。

CNE 垂直校正データのスケールされた応答データと同一のグラフ上へのプロット

Figure 10
Figure 10

486ポイントの出力の表を用いて2本の線のグラフをプロットできる:
  1. 掃引されたピーク・エミッション・ポイントの振幅
  2. CNE 垂直校正データ

同一の距離へのデータのスケール (それは 3m 距離での測定に基づくかも知れない)

Figure 11
Figure 11

これらの線が大きく離れていることに気付くかも知れない。 おそらくその理由は、CNE 校正データが 3m 距離に基づいているが、 GTEM データは 10m 距離に基づいていることである。 そうであれば、CNE 校正データは 10.46dB を引くことで補償できるかも知れない。 これは 20×log10(10 / 3) で計算される。 望ましくは、2つのデータのカーブは互いに重なって現れるべきである。 もしそれらが一貫してかなりの大きさ離れているならば、 それは意図せずに含まれた何らかの数値的オフセットによるものかも知れない。 これは解消しなければならない。 よりありそうな状況は、2本の線がある周波数範囲では一致するが、 他では一致しないというものである。 次のプロットは 10m に補正した結果を示す。

その差はコム・ジェネレータの校正誤差と受信システムの不完全性の合計を示す。 別の CNE ユニットと、2年使われた同一のユニットのあいだで、 コム・ジェネレータの校正に 4dB までの差があるのに気付いている。 これは非常に大きな不確かさであるが、その CNE が与えられた最初の仕事は 我々の GTEM の大きな偏差 (20dB) を明らかにすることであり、これを行なうことは容易であった。 上のプロットは 107MHz と 900MHz での問題を示す。

CNE 校正データは、それ自身が2段階のプロセスで生成されたものであり、 それ自身が数 dB の誤差を持つかも知れない。 その CNE 製造業者はマスターの CNE を NPL での特性決めに出す。 そのマスター CNE は顧客の校正をいつ行なえるかを知らせた製造業者に戻される。 その期間に、顧客の CNE ユニットは製造業者自身の電波暗室でマスター CNE と1つづつ比較される。 その校正データはこの方法で作られる。

まとめ

上で述べた校正比較は CNE を最適な位置に置いて行なわれた: 床とセプタムの中央、GTEM の側面の中央、そして GTEM の頂点からマークされた校正距離。

この手法は修正が必要な GTEM の応答のいくつかの特有の欠点をピンポイントし、 必要な調整を行ないながらのリアルタイムでのフィードバックを与えた。

その調整が目標に充分に近付いたならば、その次のステップは、 CNE に対する GTEM の応答と CNE のデータ自身との差から 補正係数ファイルを作ることであろう。 補正係数ファイルを用いるという考えは、製品試験を行なう時、 GTEM データを理想的な応答に補正するためである。 26ポイントのそのような補正係数ファイルは良好に用いられており、 エミッションの結果が限度に近い時の有用な意志決定ツールを与える。

時間領域反射測定

Figure 12
Figure 12

Figure 13
Figure 13

GTEM は RF 増幅器から終端までの全経路で 50Ω インピダーンスを与えるように意図されており、 この経路は伝送線路である。 電磁エネルギーはその伝送線路を流れ、その過程でそれぞれの点でのインピーダンスに影響される。 インピーダンスが任意の点で変化する時、 その不連続性は、信号源へと逆行し、連続波の振幅に影響する反射波を生じる。 この効果は、インピーダンス不連続をピンポイントし、 その程度の情報を与えるために用いることができる。

必要な機器は、高速な立ち上がり時間のパルスの発生源と、高速なデジタル・オシロスコープである。 このテクニックを既存の試験器器で実演することは可能かも知れないが、 セプタムの調整のための感度と精度を与えるためには特別な機器が必要であり、 専門家に任せるのが最良である。 例として、頂点と終端のあいだの GTEM 内のインピーダンスを明らかにするために、 パルス発生器と広帯域オシロスコープが用いられる。

Agilent 81130A パルス/パターン発生器が、 高速の立ち上がり時間のパルスを 1kHz の繰り返し時間で発生する。 これは LeCroy 1GHz オシロスコープに接続された AP020 アクティブ・プローブで パルス発生器の出力コネクタで監視される。 GTEM の頂点の接続点への接続のためには通常の RG213 ケーブルが用いられた。

元のローからハイへの遷移の後でパルスが到達した電圧レベルが、 その伝送線路の経路に沿ったインピーダンスの良い指標であることがわかった。 例えば、RG213 (50Ω) ケーブルが遠端で 60Ω 終端に接続された時、 電圧レベルは約 10% 増加した。 VSWR の式 (1 + Ro) / (1 - Ro)、掛ける公称インピーダンス。 これはその値が 60Ω であることを確認する。 ここのプロットは RG213 ケーブルが GTEM に接続し直された時の結果を示す。 最初のカーソルはパルスがケーブルから GTEM に送られた箇所に合わせられている。 2番目のカーソルはセプタムが抵抗ボードに接続された箇所に合わせられている。 そのトレースはケーブルとセプタムでは滑らかであるようだが、 抵抗ボードでの著しい不連続性を示す。 そのバンプのピークは 50Ω レベルよりも 14.8% 高いようである。 これは 67.5Ω に換算される。

既に述べたように、GTEM をそのようなセットアップに基づいて調整しようとはせず、 専門家に任せること。

VSWR 測定

Figure 14
Figure 14: ある GTEM に対する VSWR のプロット

VSWR は電圧定在波比を意味し、増幅器から供給された RF 電力 (進行波電力) に対する、 増幅器に反射して戻る電力 (反射波電力) の測定値から導かれる。 反射波電力は GTEM とその RF 入力ケーブルとのあいだの不整合に起因する インピーダンスのバンプによって作られる。 反射減衰量、VSWR (電圧定在波比)、あるいは VRC (電圧反射係数) は 全て伝送線路に対する負荷インピーダンスの整合を述べるために用いられる用語であり、 それらは交換可能である。 反射係数の振幅、|Γ|、あるいは ρ は、 伝送線路と終端インピーダンスの継目における、入射波に対する反射波の振幅の比率である。 |Γ| has a value between 0 and 1. |Γ| は 0 から 1 のあいだの値を持つ。 0 の |Γ| は線路が完全に整合していることを意味し、 1 の値は線路が短絡か開放となっていることをを示す。 反射減衰量 RL は反射係数の振幅を dB で表現したものである。

RL = 20 log10 |Γ| dB.

ここで、0dB の反射減衰量は線路が短絡か開放となっていることを意味し、 -∞ dB は線路が完全に整合していることを意味する。

VSWR = (1 + |Γ|) / (1 - |Γ|)

GTEM の VSWR は、「PC を用いた基本放射イミュニティセットアップ」で示すシステムに 第2のパワー・メータを追加することで測定できる。 第2のパワー・センサは、方向性結合器の J1 に、 そこに取り付けられた 50Ω 終端を外してから取り付けるべきである。 これは反射電力を測定するであろう。 この2つの電力測定値の差が反射減衰量である。

例えば、20dB の反射減衰は -20dB と表現される。
20 で割ると -1 が得られる。
逆対数を取ると、0.1 が得られる。
これが|Γ| である。
計算: VSWR = (1 + |Γ|) /(1 - |Γ|)、(1 + 0.1) / (1 - 0.1) = 1.22

先に示したプロットは、1つの GTEM に対して違う時に行なわれた2回の VSWR 測定結果を示す。 赤いカーブは 1.6 のピーク VSWR レベルを、 青いカーブは 1.8 のピーク・レベルを、いずれも 100MHz で示す。 サンプルの分解能は 10MHz である。 この GTEM の、2MHz のコム・エミッション間隔の CNE を用いた追跡調査はより詳細な偏差を示し、 最終的には問題の解決へと導いた。

あるフィールド強度のために必要な進行波電力

GTEM 校正が行なわれた時、記録されるデータ出力の1つは、 一定のフィールド強度を与えるために GTEM に印加された進行波電力である。 もし GTEM のインピーダンス整合がその周波数範囲にわたって平坦であれば、 進行波電力の測定値は一定の値となるであろう。 実際には、特定の周波数で進行波電力に相当の変動がある。 その変動は GTEM の内部の共振によるものかも知れない。 その変動の大きさは、特定のフィールド強度を達成するために 増幅器システムから必要な出力電力に影響するであろう。 明らかに、これはより強力な増幅器を購入しなければならないならばコストに関係するが、 より顕著な変動はその GTEM が調整を必要なことを示唆するかも知れない。 6dB を超えるピーク - ピーク変動は調査すべきである。


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これは、EMC+Compliance Journal に掲載された記事を、 その許諾を得て T. Sato が翻訳したものです。 この翻訳については、原著者らはいかなる責任も持ちません。 これについての意見、質問などは VEF00200@nifty.com (T.Sato) 宛にお送り下さい。

Last update: 2011-08-27